一般人不知道的技术清洁度工作流程

今天,我们将探讨如何区分反光(被视为金属)颗粒与非反光颗粒(被视为非金属)颗粒,以及如何识别纤维(非污染物颗粒)。我们将通过以下几个步骤,将反光和非反光颗粒区分以及纤维识别引入整个技术清洁度检测过程:

准备阶段:

提取过滤干燥和称重检测阶段:

图像采集颗粒检测粒度测量和分类颗粒计数推算和归一化污染等级计算清洁度代码定义最大批准值检查区分反光和非反光颗粒纤维识别结果审查报告

区分反光和非反光颗粒

金属颗粒较硬,因此相较于非金属颗粒,前者有可能造成更严重的损坏。

金属和非金属颗粒是通过其反射的入射光进行区分的。滤膜和非金属颗粒上的入射光仅会发生漫反射。不论入射光如何,“反射”的光线都不会发生偏振。即使入射光发生偏振,在相机成像时也分析不到偏振效应。滤膜始终比其上的颗粒更明亮。

入射光照射到金属颗粒时,我们能够观察到真实的反射。(金属表面的此种光线反射不会改变光的偏振。)可通过一种传统的清洁度检测方法展现这种差异。可在相机上分析反射光的偏振——当起偏镜和检偏镜设置为平行位置时,金属颗粒会变得非常明亮。

传统的金属颗粒检测方法需要采集两幅图像。第一幅图像检测出所有颗粒,第二幅图像高亮显示金属颗粒。检偏镜必须在采集第二幅图像前旋转 90°。该步骤非常耗时,并且需要对两幅图像进行特殊调节和校准。

带有检测出的所有颗粒并显示为较暗图像的滤膜。

带有显示为较亮图像的金属颗粒的滤膜。

全新的一次成像过程

奥林巴斯推出的CIX 技术清洁度检测系统采用创新方法,仅需一次扫描即可完成数据采集。在此专利方法中,入射光束发生偏振。我们使用延迟色板改变偏振光光谱的一个波段;因此,入射光的颜色不同时,偏振也会不同。

滤膜上非金属颗粒的漫反射与传统方法中观察到的情况相同。反射光在所有颜色范围内均不发生偏振,因此不需要进行分析。滤膜比其上的深色颗粒更明亮。

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